產品分類

Product classification

4產品中心

您的位置: 首頁 -> 產品中心 -> 環(huán)境試驗箱 -> 襄陽恒溫恒濕試驗箱 -> MG-710 高速低溫氣流沖擊襄陽試驗機

MG-710 高速低溫氣流沖擊試驗機

產品品牌：美高

產品類別：恒溫恒濕試驗箱

產品用途：
本設備適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

MG-710 高速低溫氣流沖擊襄陽試驗機

詳情說明

用途

本設備適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

1、試驗系統(tǒng)結構設計先進合理，制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方。

2、該試驗箱主要功能元器件均采用世界名牌配置（含金量高）、技術原理先進可靠、噪音與節(jié)能得到最佳控制——其性能可替代國外同類產品。

3、零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有國際先進水平的原裝進口件，提高了產品的安全性和可靠性，能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。

4、設備具有良好的操作性、維護性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、不污染環(huán)境及危害人身健康。

1、GB/T 2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法；

2、GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法；

3、GB/T2423.22-2012 試驗N: 溫度變化試驗方法

4、GJB/150.3-2009 高溫試驗

5、GJB/150.4-2009 低溫試驗

6、 GJB/150.5-2009 溫度沖擊試驗

型號:	MG-710高速低溫氣流沖擊試驗機
內部尺寸（W×H×D）cm:	W(寬)790mmH(高)1600mmD(深)1080mm, 溫馨提示：外部尺寸請依最終設計確認三視圖為準！
溫度范圍:	-80℃~250℃
溫度轉換速度 :	-55℃~125℃/125℃~-55℃≤10秒
溫度精度 :	±0.5℃
溫度解析度:	0.1℃
設備出氣流量:	4~18SCFN(1.8l/s~8.5l/s)
測試模式 :	AIR MODE（氣流感測）或DUT MODE （遠端測量）
工作模式:	高溫-常溫-低溫/高溫-低溫/高溫-常溫/低溫-常溫/自定義編程
運行模式:	手動/程序/手動循環(huán)/自動循環(huán)
手臂延伸尺寸 :	140cm
最高與最低尺寸 :	720mm~1220mm
耐溫玻璃罩尺寸 :	內徑：140mm；高度55mm
電源：	單相 220V 50Hz 40A
進氣溫度:	+15℃~+25℃
進氣壓力:	90~110Psig（6.2~7.6bar）
進氣流量 :	1~1.5m3/min
進氣露點 :	≤10℃
含油量 :	≤0.01ppm